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不知道了吧!通過這些方法可使X熒光光譜儀避免誤差

更新時間:2022-11-25點擊次數(shù):1576
  X熒光光譜儀是將光打到樣品上時,樣品分子會使入射光發(fā)生散射,若部分散射光的頻率發(fā)生改變,則散射光與入射光之間的頻率差稱為拉曼位移。本儀器主要就是通過拉曼位移來確定物質(zhì)的分子結(jié)構(gòu),針對固體、液體、氣體、有機物、高分子等樣品均可以進行定性定量分析。因此,與紅外吸收光譜類似,對拉曼光譜的研究,也可以得到有關分子振動或轉(zhuǎn)動的信息。目前該技術已廣泛應用于物質(zhì)的鑒定、分子結(jié)構(gòu)的研究。
 
  盡管X熒光光譜儀具有很高的精度,但是由于許多因素的影響,仍然存在一定的誤差,那么如何才能巧妙地避免本儀器的誤差呢?
 
  1、系統(tǒng)誤差的來源
 
  (1)當標準樣品和樣品的含量和化學組成不相同時,可能會導致矩陣線和分析線的強度發(fā)生變化,從而引入錯誤。
 
 ?。?)當標準樣品的物理性質(zhì)和樣品的物理性質(zhì)不相同時,激發(fā)的特征譜線將不同,這將導致系統(tǒng)誤差。
 
  (3)當處于澆鑄狀態(tài)的鋼樣品的金屬結(jié)構(gòu)與處于退火,淬火,回火,熱軋和鍛造狀態(tài)的鋼樣品的金屬結(jié)構(gòu)不同時,測得的數(shù)據(jù)將有所不同。
 
  (4)未知元素光譜的重疊干擾。例如,在熔煉過程中添加脫氧劑和脫硫劑時,未知的合金元素會混入系統(tǒng)中,從而導致系統(tǒng)誤差。
 
 ?。?)為了消除系統(tǒng)誤差,有必要嚴格遵守標準樣品制備的要求。為了檢查系統(tǒng)錯誤,有必要使用化學分析方法來分析多次校對的結(jié)果。
 
  2、偶然誤差的來源
 
  與樣品成分不均勻有關的誤差。由于光電光譜分析消耗的樣品很少,因此樣品中元素分布的不均勻性和組織結(jié)構(gòu)的不均勻性會導致不同部位的分析結(jié)果不同,并偶爾出現(xiàn)誤差。
 
 ?。?)在熔煉過程中引入夾雜物,導致偏析導致樣品中元素分布不均。
 
 ?。?)樣品的缺陷,氣孔,裂縫,水泡等。
 
 ?。?)諸如交叉研磨模式,樣品研磨的過熱,樣品研磨表面的時間過長以及指紋等因素。
 
 ?。?)為了減少意外誤差,必須仔細取樣以消除樣品的不均勻性和樣品的鑄件缺陷。也可以重復分析幾次以減少分析誤差。
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